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簡要描述:稀有稀土礦石成份分析標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)是為地質(zhì)、選冶的實驗分析廣泛和長遠需要制備的。該標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)可供地質(zhì)、冶金、環(huán)保、商檢等部門用于分析方法質(zhì)量評估,分析質(zhì)量監(jiān)控、某些分析儀器校正等。
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詳細介紹
稀有稀土礦石成分分析標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)是為地質(zhì)、選冶的實驗分析廣泛和長遠需要制備的。該標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)可供地質(zhì)、冶金、環(huán)保、商檢等部門用于分析方法質(zhì)量評估,分析質(zhì)量監(jiān)控、某些分析儀器校正等。
一、樣品的制備
鈹?shù)V石和鉭礦石樣品采自新疆可可托海礦區(qū);鋰礦石樣品采自江西省宜春市414 礦區(qū);鋯礦石樣品采自海南萬寧市海濱鋯英石礦礦區(qū);兩個稀土礦石樣品(RE —1、RE—2)分別采自湖南省紅花方稀土礦區(qū)和廣東省寨背頂稀土礦區(qū)。
樣品經(jīng)粉碎機粉碎至小于 20 目,裝入球磨機細磨至<0.074mm。每種礦石標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)制備量約為 60-90 公斤。一 200 目大于 95%。
二、均勻性及穩(wěn)定性
稀有稀土礦石成分分析標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的均勻性檢驗分別用原子吸收分光光
度法測定成礦元素 Li 和電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定成礦元素
Be:用 x-熒光光譜法測定成礦元素 Rb、Cs、Nb、Ta、Zr、Hf、La、Pr. Nd、Er 和伴生元素 Cu、Zn、Ni、Mn、Fe、Ti、Al、K。經(jīng)單因素方差分析 F 檢驗和總體參數(shù)(端值、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差)進行綜合判斷,證明該標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)均勻性良好。經(jīng)二年測試考察證明標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)是穩(wěn)定的??纱娣拧J褂脮r,應(yīng)根據(jù)選用的方法和被測定元素含量決定取樣量。鈹?shù)V石中 Be 的均勻性檢驗用等離子體發(fā)射光譜法,取樣量0.1000g。鋰礦石中的 Li 用原子吸收分光光度法,取樣量為 0.1000g。成礦元素在均勻性檢驗中的其實際取樣量為 0.1g--0.5g。
三、使用及貯存
本標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)應(yīng)密封保存在陰涼干燥處。用玻璃瓶包裝,每瓶 50 克。使用前,應(yīng)在 105℃,干燥 1 小時。
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